秉承著諸多飛納電鏡客戶的殷切期盼，近年來持續擴大投入研發，如今已取得重大突破！2017年 4 月 12 日，飛納電鏡于蘇州金雞湖凱賓斯基大酒店舉行盛大的新品發布會事宜！
此次新品發布會延續了飛納電鏡一貫的“多，快，好，省”原則，同時在目前已有操作簡單(智能化)，分辨率高，信噪比高，整體穩定性強，對環境兼容性大，*防震，后期維護方便等基礎上，進一步創新，發布了以下三款創新產品。
● 高分辨率專業版 Phenom Pro + SED
飛納臺式掃描電鏡 Phenom Pro 以其*的背散射成像(BSE)已經在廣大用戶群體中收獲了非常良好的口碑，如今又在 BSE 基礎上增添了二次電子成像( SED ),二次電子成像( SED )具有怎樣優異的性能?其首先采用了更優化的真空系統減小殘留空氣對電子束的散射，從而提高圖像信噪比，同時可利用更小束斑成像，大幅度提高分辨率。其次采用了更優化的燈絲束流控制系統，提高了發射束流的單色性，降低了成像系統的相差，從而更大程度的減小了束斑成像。
● 全自動顯微平臺 Phenom XL + 可傾斜旋轉的優中心樣品杯
飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL 具有很強的后期可拓展性，其中此次即將發布的新產品就是針對Phenom XL 的一個拓展。該優中心樣品杯采用了*的設計，它包含了一個可以測試優中心傾斜和旋轉的子樣品臺，可以在一分鐘內實現裝卸樣品。優中心樣品杯的傾斜和旋轉意義重大，可以從不同角度來觀察樣品，比如測量樣品的深度、高度和厚度特征，檢查鍍層之間或零件之間的連接情況。在能譜元素分析中，傾斜功能也同樣十分有用。不平整樣品可以通過傾斜，使被分析面變得水平，從而提高能譜元素分析的準確度。
飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL 優中心樣品杯
● 全自動顯微平臺Phenom XL + 拉伸臺
飛納電鏡此次的新品發布會上會呈現的第三個產品就是拉伸臺，此產品也是飛納臺式掃描電鏡Phenom XL 一項重大拓展。拉伸臺是一種動態觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機制的手段,在材料科學前沿研究中發揮了重要作用。掃描電鏡原位拉伸臺的zui大特點是,在進行應力—應變力學定量測試的同時, 利用掃描電鏡的強大的景深、高空間分辨和分析功能，在微觀層面上對材料的力學性能進行動態研究。拉伸臺可以為很多材料做拉伸測試，如金屬材料(研究韌斷過程、應力誘發相變及塑性變形),高分子材料，陶瓷材料等。飛納臺式掃描電鏡的原位拉伸臺能實現 2N to 1000N 的拉力區間，拉伸速度可實現 0.1mm/min 到 15mm/min，滿足幾乎所有領域樣品的原位拉伸觀測。
飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL 拉伸臺
飛納電鏡一貫秉承的“多，快，好，省”原則
“多”——多人，多用，多功能
“快”——快學，快測，快結果
“好”——好準，好穩，好管理
“省”——省錢，省心，省空間
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