提 供 商：
復納科學儀器（上海）有限公司資料大小：
圖片類型：
資料類型：
PDF下載次數：
142點擊下載：
文件下載詳細介紹：
近年來，隨著科技的發展和材料尺寸的不斷縮小，掃描電鏡（SEM）已經成為一種非常有價值的表征方法。SEM作為一種通用的工具，方便用戶可以對各種各樣的材料進行多種不同類型的分析。為獲得更好的結果，用戶應該仔細設定SEM參數。其中一個設置是束斑直徑，即照射在樣品上的電子束直徑。在這篇博客中，闡述了如何在SEM中調整束斑直徑，以及如何在高分辨率成像和大束流之間實現平衡，以獲得*結果。
如何在SEM下調整束斑直徑
描述SEM中電子束性質的四個主要參數如圖1所示:
圖1：SEM中電子束的四個主要參數：加速電壓、會聚角、電子束流和束斑直徑
傳真：
地址：上海市閔行區虹橋鎮申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5，705 室
版權所有 © 2018 復納科學儀器（上海）有限公司 備案號：滬ICP備12015467號-2 管理登陸 技術支持：化工儀器網 GoogleSitemap
